發(fā)貨地點(diǎn)：廣東省深圳市
發(fā)布時(shí)間：2025-02-11
活化能Ea定義：
是分子與化學(xué)或物理作用中需具備的能量，單位為eV (electron-Volts)。用以超越阻隔潛在故障與實(shí)際失效所需的能量。
活化能高，表示對(duì)溫度變化影響比較顯著。當(dāng)試驗(yàn)的溫度與使用溫度差距范圍不大時(shí)，Ea可設(shè)為常數(shù)。
一般電子產(chǎn)品在早夭期失效的Ea為0.2~0.6eV，正常有用期失效的Ea趨近于1.0eV；衰老期失效的Ea大于1.0eV。
根據(jù)Compaq可靠度工程部（CRE）的測(cè)試規(guī)范，Ea是機(jī)臺(tái)所有零件Ea的平均值。如果新機(jī)種的Ea無(wú)法計(jì)算，可以將Ea設(shè)為0.67eV，做常數(shù)處理。
3、加速因子計(jì)算范例:
例1：Ea=0.50eV，Kb= 0.00008623eV/°k, Tn=25℃+273=298°k，Ta=40℃+273=313°k
AF=e{ Ea/Kb*[1/Tn-1/Ta]}=2.540817563
例2：Ea=0.65eV，Kb= 0.00008623eV/°k, Tn=35℃+273=308°k，Ta=40℃+273=313°k
AF=e{ Ea/Kb*[1/Tn-1/Ta]}=1.478396175/
4、MTBF計(jì)算范例:
例1：某機(jī)型為例：30臺(tái)樣品，信心度為0.6，MTBF目標(biāo)值為240000小時(shí)，用戶使用溫度為35度，測(cè)試溫度為40度。
�。�1）假設(shè)在測(cè)試結(jié)束前不失效，求總的運(yùn)行時(shí)間T及MTBF測(cè)試要用的天數(shù)D。
解：MTBF=240000h，AF=1.47，C=0.6，α=1-C=0.4，r=0， X2(α,2r+2)=1.83
240000=1.47*2*T/1.83 T=148748.88h
D=T/(30*24)=148748.88/720=206.60天
（2）假設(shè)在測(cè)試11天后，有一臺(tái)失效，不替換失效樣品，即29臺(tái)接著測(cè)試，求繼續(xù)測(cè)試時(shí)需要的總時(shí)間t及MTBF測(cè)試要用的天數(shù)d。
解：MTBF=240000h，AF=1.47，C=0.6，α=1-C=0.4，r=1， X2(α,2r+2)=4.04
注意：此時(shí)總的運(yùn)行時(shí)間T=11*24*30+t ，因?yàn)榇藭r(shí)已經(jīng)測(cè)了11天
240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h
d=t/(29*24)=320378.45/696=460.31天
D=d+11=460.31 + 11=471.31天
（3）假設(shè)在測(cè)試11天后，有一臺(tái)失效，替換失效樣品，即仍然是30臺(tái)接著測(cè)試，求繼續(xù)測(cè)試時(shí)需要的總時(shí)間t及MTBF測(cè)試要用的天數(shù)d。
解：MTBF=240000h，AF=1.47，C=0.6，α=1-C=0.4，r=1， X2(α,2r+2)=4.04
a: 240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h D=T/(30*24)=320378.45/720=455.97天 d=D-11=444.97天
b: 此時(shí)總的運(yùn)行時(shí)間T=11*24*30+t ，因?yàn)榇藭r(shí)已經(jīng)測(cè)了11天
240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h
d=t/(29*24)=320378.45/696=444.97天
D=d+11=444.97 + 11=455.97天
MTBF測(cè)試，Burn-in測(cè)試，ALT區(qū)別:
圖片
Burn-in：“老化”測(cè)試，指產(chǎn)品在規(guī)定的應(yīng)力條件下，使其特性達(dá)到穩(wěn)定的方法。
ALT：Accelerated life test，加速壽命測(cè)試，是在超過(guò)使用環(huán)境條件的應(yīng)力水平下對(duì)樣品進(jìn)行的壽命試驗(yàn)。
