輝光放電質(zhì)譜（GDMS）技術(shù)能夠?qū)�金屬材料中的痕量元素進(jìn)行高靈敏度分析。在輝光放電離子源中，氬離子在電場作用下轟擊金屬樣品表面，使樣品原子濺射出來并離子化，然后通過質(zhì)譜儀對離子進(jìn)行質(zhì)量分析，精確測定痕量元素的種類和含量，檢測限可達(dá) ppb 級甚至更低。在半導(dǎo)體制造、航空航天等對材料純度要求極高的行業(yè)，GDMS 痕量元素分析至關(guān)重要。例如在半導(dǎo)體硅材料中，痕量雜質(zhì)元素會嚴(yán)重影響半導(dǎo)體器件的性能，通過 GDMS 精確檢測硅材料中的痕量雜質(zhì)，可嚴(yán)格控制材料質(zhì)量，*半導(dǎo)體器件的高可靠性和高性能。在航空發(fā)動機(jī)高溫合金中，痕量元素對合金的高溫性能也有影響，GDMS 分析為合金成分優(yōu)化提供了關(guān)鍵數(shù)據(jù)。

金屬材料在加工過程中，如鍛造、軋制、焊接等，會在表面產(chǎn)生殘余應(yīng)力。殘余應(yīng)力的存在可能導(dǎo)致材料變形、開裂，影響產(chǎn)品的質(zhì)量和使用壽命。表面殘余應(yīng)力 X 射線檢測利用 X 射線與金屬晶體的相互作用原理，當(dāng) X 射線照射到金屬材料表面時，會發(fā)生衍射現(xiàn)象，通過測量衍射峰的位移，可精確計算出材料表面的殘余應(yīng)力大小和方向。這種檢測方法具有無損、快速、精度高的特點。在機(jī)械制造行業(yè)，對關(guān)鍵零部件進(jìn)行表面殘余應(yīng)力檢測尤為重要。例如在航空發(fā)動機(jī)葉片的制造過程中，嚴(yán)格控制葉片表面的殘余應(yīng)力，能確保葉片在高速旋轉(zhuǎn)和高溫環(huán)境下的結(jié)構(gòu)完整性，避免因殘余應(yīng)力集中導(dǎo)致葉片斷裂，*航空發(fā)動機(jī)的安全可靠運(yùn)行。