相控陣探頭的頻率范圍在1?MHz到17MHz之間，晶片數(shù)量在10個(gè)到128個(gè)之間。提供各種使用壓電復(fù)合材料技術(shù)的探頭，適用于多種類型的檢測(cè)。這里說(shuō)明的標(biāo)準(zhǔn)相控陣探頭。這些探頭分為3種類型：角度聲束探頭、整合楔塊探頭，以及水浸式探頭。還可以設(shè)計(jì)其他類型的探頭，以滿足您的應(yīng)用需求。線性陣列探頭是工業(yè)應(yīng)用中常用的相控陣探頭。定義相控陣探頭的重要特征之一是探頭的孔徑。相控陣探頭和楔塊以其簡(jiǎn)約的設(shè)計(jì)，不但使焊縫檢測(cè)得到了簡(jiǎn)化和標(biāo)準(zhǔn)化，而且還改進(jìn)了信噪比。大多數(shù)相控陣探頭與楔塊一起搭配使用。池州雙線陣相控陣探頭銷售相控陣探頭檢測(cè)復(fù)合材料時(shí)，信號(hào)幅度或深度數(shù)據(jù)都可以收集，相控陣探頭同時(shí)利用編碼器收集和存儲(chǔ)探...

在超聲相控陣成像檢測(cè)中，要獲得分辨率高的聲聚焦和清晰的圖像，聲場(chǎng)的好壞是關(guān)鍵，而聲場(chǎng)主要取決于相控陣探頭的設(shè)計(jì)，因此相控陣探頭在超聲相控陣成像檢測(cè)中是至關(guān)重要的．目前實(shí)際檢測(cè)時(shí)，探頭多為均勻線陣。均勻線陣的主要參數(shù)包括：探頭頻率、探頭陣元數(shù)、陣元間距和陣元大小。在分析相控陣探頭陣元數(shù)之前需要分清探頭陣元數(shù)、系統(tǒng)通道數(shù)和實(shí)際檢測(cè)通道數(shù)之間區(qū)別。相控陣探頭陣元數(shù)是指探頭可以使用的較大陣元數(shù)．而系統(tǒng)獨(dú)通道數(shù)則是系統(tǒng)在檢測(cè)時(shí)可以實(shí)際使用的較大通道數(shù)。一般探頭陣元數(shù)小于系統(tǒng)通道數(shù)，系統(tǒng)通道數(shù)又大于實(shí)際檢測(cè)通道數(shù)。相控陣探頭電子束聚焦通過(guò)對(duì)線性相控陣不同陣元施加對(duì)稱的聚焦法則。河南凸陣相控陣探頭購(gòu)買凹面陣...

相控陣探頭的應(yīng)用發(fā)展：隨著超聲波相控陣相控陣檢測(cè)技術(shù)的飛速發(fā)展，相控陣真實(shí)幾何結(jié)構(gòu)位置仿真工藝技術(shù)得到越來(lái)越普遍的關(guān)注，各種檢測(cè)工藝的應(yīng)用逐漸在驗(yàn)證成熟。同時(shí)，伴隨著國(guó)內(nèi)涉及該技術(shù)應(yīng)用的相關(guān)法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布，該技術(shù)在特種設(shè)備、石化石油、電力等領(lǐng)域的應(yīng)用被正式認(rèn)可。超聲相控陣技術(shù)已有近20多年的發(fā)展歷史。初期主要應(yīng)用于醫(yī)療領(lǐng)域,醫(yī)學(xué)超聲成像中用相控陣換能器快速移動(dòng)聲束對(duì)被檢部位成像;大功率超聲利用其可控聚焦特性局部升溫?zé)岑熤尾?使目標(biāo)組織升溫并減少非目標(biāo)組織的功率吸收。較初,系統(tǒng)的復(fù)雜性、固體中波動(dòng)傳播的復(fù)雜性及成本費(fèi)用高等原因使其在工業(yè)無(wú)損檢測(cè)中的應(yīng)用受限。然而隨著電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的快速發(fā)展...

相控陣探頭檢測(cè)復(fù)合材料時(shí)，信號(hào)幅度或深度數(shù)據(jù)都可以收集，相控陣探頭同時(shí)利用編碼器收集和存儲(chǔ)探頭位置，通過(guò)軟件實(shí)現(xiàn)C掃描成像顯示。用相控陣探頭檢測(cè)管座角焊縫，具有更大的優(yōu)勢(shì)。相控陣探頭的特點(diǎn)是具有多晶片陣元，各晶片的激勵(lì)可以由相控陣設(shè)備設(shè)計(jì)和控制，壓電復(fù)合晶片受激勵(lì)后能產(chǎn)生超聲聚焦聲場(chǎng)，聲場(chǎng)的角度、聚焦方向、聚焦類型均可以設(shè)置。因此使用相控陣探頭檢測(cè)管座角焊縫，缺陷檢出率和檢測(cè)可靠性均優(yōu)于常規(guī)超聲波檢測(cè)。利用相控陣探頭的相控陣超聲相比傳統(tǒng)的手工超聲無(wú)損檢測(cè)技術(shù)具有很大優(yōu)勢(shì)，因?yàn)橄嗫仃囂筋^可以從固定的位置檢測(cè)各種焊縫和材料，這就允許它檢查相對(duì)困難的幾何形狀。相控陣探頭的頻率是指一秒鐘內(nèi)聲波完成振動(dòng)...

相控陣探頭的類型：根據(jù)探頭的功能可將探頭劃分為接觸式、延遲線式、角度聲束、或水浸式等類型。在具體應(yīng)用中，被測(cè)材料的特性，如：表面粗糙度、溫度、可達(dá)性、材料內(nèi)缺陷的位置、檢測(cè)速度等，都會(huì)影響用戶對(duì)探頭類型的選擇。尺寸：尺寸是指開(kāi)啟探頭晶片的直徑，或者晶片的長(zhǎng)度和寬度。晶片通常被置于比它稍大一點(diǎn)的外殼中。頻率：頻率是指一秒鐘內(nèi)聲波完成振動(dòng)周期的次數(shù)，通常用千赫（kHz）或兆赫（MHz）表示。大多數(shù)工業(yè)超聲檢測(cè)在500kHz到20MHz頻率范圍內(nèi)進(jìn)行，因此大多數(shù)探頭的頻率處于這個(gè)范圍內(nèi)。不過(guò)，用戶也可以買到頻率范圍在50kHz以下及200MHz以上的商業(yè)探頭。頻率越低，穿透力越強(qiáng)；頻率越高，那么分辨...

凹面線性相控陣探頭是一種重要的相控陣探頭陣列，在實(shí)際應(yīng)用中往往會(huì)起到很好的探測(cè)效果，如棒材（或管材）質(zhì)量的在線檢測(cè)問(wèn)題，常規(guī)的超聲檢測(cè)方法需要超聲波相控陣探頭或棒材不斷地旋轉(zhuǎn)，而采用凹面的相控陣探頭，通過(guò)陣元之間的不同組合使聲束快速地旋轉(zhuǎn)并查掃到各個(gè)部位。目前，上已有利用凹面相控陣探頭對(duì)棒材檢測(cè)的商業(yè)儀器，主要采取線性查掃和扇形查掃的方式來(lái)確定是否存在缺陷。利用凹面線陣，對(duì)棒材（或管材）檢測(cè)時(shí)具有更好的聚焦效果。超聲相控陣檢測(cè)的優(yōu)勢(shì)在于，通過(guò)軟件還可控制聚焦聲束的角度、聚焦距離以及焦點(diǎn)大小，同時(shí)由于掃描的聲束是聚焦產(chǎn)生的，所以能夠檢測(cè)到分散在不同角度的裂紋，而且能夠在相控陣探頭不移動(dòng)或少移動(dòng)情...

柔性相控陣探頭主要應(yīng)用于輪廓不規(guī)則工件的檢測(cè)中，如航天航空領(lǐng)域飛機(jī)機(jī)翼和機(jī)身復(fù)合板，承壓設(shè)備領(lǐng)域壓力管道的內(nèi)外壁、彎頭、三通等的檢測(cè)。但是，柔性相控陣探頭的阻尼片較薄，探頭的頻帶很窄，具有較大的表面盲區(qū)，這是柔性相控陣探頭的局限性。因此，其比較適宜大厚度工件的檢測(cè)。柔性相控陣探頭可分為一維柔性相控陣探頭和二維柔性相控陣探頭。一維柔性相控陣探頭通過(guò)機(jī)械裝置將探頭內(nèi)各個(gè)晶片壓在工件表面，利用工件輪廓測(cè)量?jī)x測(cè)出表面形狀，隨后根據(jù)計(jì)算機(jī)對(duì)該輪廓的延時(shí)律算法進(jìn)行實(shí)時(shí)處理；二維柔性相控陣探頭是在二維矩陣的表面涂抹一層柔軟的彈性樹(shù)脂，彈性樹(shù)脂能與工件表面緊密貼合，從而實(shí)現(xiàn)三維成像。用戶對(duì)相控陣探頭的類型選擇...

相控陣探頭的應(yīng)用技術(shù)：非垂直界面的反射和模式轉(zhuǎn)換：當(dāng)在某種材料中傳播的聲波遇到一個(gè)介質(zhì)不同且與聲波傳播方向成一定角度(角度不為零)的材料時(shí)，聲能的一部分會(huì)以與入射角度相同的角度反射。與此同時(shí)，另一部分在第二種材料中傳播的聲能會(huì)根據(jù)斯涅爾定律產(chǎn)生折射。如果第二介質(zhì)的聲速高于第1介質(zhì)，則在超出某些特定的角度時(shí)，折射現(xiàn)象還會(huì)伴有模式轉(zhuǎn)換，常見(jiàn)的轉(zhuǎn)換為縱波模式轉(zhuǎn)換為橫波模式。普遍應(yīng)用的角度聲束檢測(cè)技術(shù)就是基于這個(gè)現(xiàn)象。隨著在第1個(gè)較慢介質(zhì)(如：楔塊或水)中入射角度的增加，在第二個(gè)較快介質(zhì)(如：金屬)中的折射縱波角度也會(huì)相應(yīng)增加。當(dāng)折射縱波角度接近90度時(shí)，越來(lái)越多的聲能被轉(zhuǎn)換為以斯涅爾定律規(guī)定的角度折...

相控陣探頭電子束聚焦通過(guò)對(duì)線性相控陣不同陣元施加對(duì)稱的聚焦法則。常規(guī)超聲通常使用幾種探頭來(lái)聚焦在不同深度。相控陣探頭電子聚焦的優(yōu)點(diǎn)是通過(guò)一個(gè)探頭能聚焦在聲場(chǎng)覆蓋的每一個(gè)深度。用動(dòng)態(tài)聚焦快速檢測(cè)厚坯的完整體積，電子聚焦還可以補(bǔ)償由于柱面界面引起的聚焦畸變。相控陣探頭電子束通過(guò)將聚焦法則應(yīng)用于線性、圓形或矩陣陣列的不同陣元，通過(guò)電子偏轉(zhuǎn)實(shí)現(xiàn)線陣和環(huán)陣探頭的2D波束控制，而矩陣陣列允許三維波束控制。這種技術(shù)實(shí)現(xiàn)使用一個(gè)探頭完成多種角度檢測(cè)的工作。在復(fù)雜幾何形狀件檢測(cè)時(shí)，這種技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)可以與電子聚焦的優(yōu)點(diǎn)結(jié)合起來(lái)快速檢測(cè)。相控陣探頭的類型有直接接觸式探頭和水浸式探頭。浙江柔性相控陣探頭價(jià)格相控陣探頭有...

凹陣相控陣探頭的形狀往往呈半圓形，相較于通常的線性陣列探頭，可以進(jìn)行自然幾何聚焦。其可與所有可調(diào)節(jié)水浸楔塊配合使用，常用于復(fù)合材料的分層檢測(cè)中。此外，在碳纖維增強(qiáng)復(fù)合材料(CFRP)的圓角部位檢測(cè)方面，由于該探頭的凹面結(jié)構(gòu)可保證聲束垂直進(jìn)入R區(qū)，在檢測(cè)R區(qū)時(shí)相比其他超聲探頭有較多優(yōu)勢(shì)。雙晶線性陣列探頭采用雙晶線性陣列的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，相當(dāng)于內(nèi)置兩個(gè)相控陣線陣探頭，一個(gè)發(fā)射聲波，另一個(gè)接收聲波，避免了表面檢測(cè)盲區(qū)，提高了信噪比。并且，其通過(guò)降低探頭的中心頻率，采用縱波檢測(cè)的方式提高超聲波的穿透力。該探頭不只可以對(duì)不銹鋼材料進(jìn)行檢測(cè)，還可用于鑄件、合金、異種鋼焊縫等其他粗晶材料的檢測(cè)。相控陣探頭電子聚焦...

相控陣成像的基本原理常規(guī)超聲儀器和相控陣超聲儀器都使用高頻聲波，核查被測(cè)樣件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)或測(cè)量樣件的厚度。它們都以物理學(xué)中支配聲波傳播的相同的基本法則為基礎(chǔ)。相控陣工作原理：通過(guò)軟件可以單獨(dú)控制相控陣探頭中每個(gè)晶片的激發(fā)時(shí)間，從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點(diǎn)尺寸。技術(shù)優(yōu)勢(shì)：1.實(shí)時(shí)彩色成像，包括A/B/C/D和S-掃描，便于缺陷判讀，不會(huì)誤判或漏判缺陷；2.相控陣技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)線性掃查、扇形掃查和動(dòng)態(tài)深度聚焦，從而同時(shí)具備寬波束和多焦點(diǎn)的特性，因此檢測(cè)速度可以更快更準(zhǔn)；3、相控陣具有更高的檢測(cè)靈活性，可以實(shí)現(xiàn)其它常規(guī)檢測(cè)技術(shù)所不能實(shí)現(xiàn)的功能，如對(duì)復(fù)雜工件檢測(cè)。相控陣探頭具有能夠區(qū)分橫向或深度...

使用相控陣探頭與傳統(tǒng)超聲探頭相比，相控陣由于具有聚焦和圖像顯示的特點(diǎn)，對(duì)結(jié)構(gòu)型缺陷檢測(cè)的可靠性更高。特別是在復(fù)合材料檢測(cè)。相控陣探頭的光束可以通過(guò)電子方式移動(dòng)，不移動(dòng)探頭，聲場(chǎng)就可以覆蓋更大的區(qū)域。相控陣探頭的聲束是可控的，因?yàn)橄嗫仃囂筋^由多個(gè)小的元件組成，每個(gè)小的元件可以在計(jì)算機(jī)計(jì)算的定時(shí)單獨(dú)發(fā)射。通過(guò)相控陣儀器對(duì)每個(gè)陣元進(jìn)行不同的發(fā)射定時(shí)控制，也稱為聚焦法則。通過(guò)聚焦法則的控制，聲場(chǎng)覆蓋的區(qū)域能實(shí)現(xiàn)各種特定的聚焦方式，檢測(cè)靈敏度也得到提升。相控陣探頭可以利用0°相控陣探頭進(jìn)行垂直掃查，實(shí)現(xiàn)比常規(guī)手動(dòng)更直觀的檢測(cè)結(jié)果。上海相控陣探頭哪里有雙線陣相控陣探頭有別于常規(guī)的單線陣探頭，雙線陣采用一邊...

相控陣探頭按陣列形式通?？煞譃榫€形、矩陣形、環(huán)形和扇形。相控陣探頭有多種不同的陣列排布形式，其類型按陣元排列方式可分為：一維線陣、二維矩陣、環(huán)形陣、扇形陣、凹面陣、凸面陣、雙線型陣等。不同的陣列排布方式將會(huì)產(chǎn)生不同的聲場(chǎng)特性，使相控陣能應(yīng)用于不同工況下的檢測(cè)。相控陣探頭電子束通過(guò)交替地發(fā)射線性相控陣給定數(shù)目的元件進(jìn)行電子轉(zhuǎn)換。這種技術(shù)替代了常規(guī)超聲單晶片探頭的機(jī)械移動(dòng)掃查的一種方法。線陣相控陣探頭的優(yōu)點(diǎn)是無(wú)需機(jī)械運(yùn)動(dòng)。相控陣探頭的聲波散射情況在通過(guò)3個(gè)區(qū)域時(shí)會(huì)發(fā)生變化。四川凸陣相控陣探頭工廠超聲相控陣是超聲探頭晶片的組合，由多個(gè)壓電晶片按一定的規(guī)律分布排列，然后逐次按預(yù)先規(guī)定的延遲時(shí)間激發(fā)各個(gè)...

相控陣探頭的應(yīng)用：超聲相控陣是超聲探頭晶片的組合，由多個(gè)壓電晶片按一定的規(guī)律分布排列，然后逐次按預(yù)先規(guī)定的延遲時(shí)間激發(fā)各個(gè)晶片，所有晶片發(fā)射的超聲波形成一個(gè)整體波陣面，能有效地控制發(fā)射超聲束（波陣面）的形狀和方向，能實(shí)現(xiàn)超聲波的波束掃描、偏轉(zhuǎn)和聚焦。它為確定不連續(xù)性的形狀、大小和方向提供出比單個(gè)或多個(gè)探頭系統(tǒng)更大的能力。超聲相控陣檢測(cè)技術(shù)使用不同形狀的多陣元換能器產(chǎn)生和接收超聲波束，通過(guò)控制換能器陣列中各陣元發(fā)射(或接收)脈沖的不同延遲時(shí)間，改變聲波到達(dá)(或來(lái)自)物體內(nèi)某點(diǎn)時(shí)的相位關(guān)系，實(shí)現(xiàn)焦點(diǎn)和聲束方向的變化，從而實(shí)現(xiàn)超聲波的波束掃描、偏轉(zhuǎn)和聚焦。然后采用機(jī)械掃描和電子掃描相結(jié)合的方法來(lái)實(shí)現(xiàn)...

相控陣探頭根據(jù)以下基本參數(shù)從功能上被分成不同的類別：晶片尺寸：隨著晶片寬度的減小，聲束電子偏轉(zhuǎn)的性能會(huì)增強(qiáng)，但是要覆蓋大區(qū)域就需要有更多的晶片，因此費(fèi)用也會(huì)增加。晶片數(shù)量：常用的相控陣探頭一般有16到128個(gè)晶片，有些探頭的晶片多達(dá)256個(gè)。隨著晶片數(shù)量的增多，聲波聚焦與電子偏轉(zhuǎn)的能力會(huì)增強(qiáng)，同時(shí)檢測(cè)所覆蓋的區(qū)域也會(huì)擴(kuò)大，然而探頭和儀器的成本費(fèi)用也會(huì)增加。每個(gè)晶片被單獨(dú)脈沖激勵(lì)，以創(chuàng)建希望得到的波前。因此這些晶片排列方向的維度通常被稱為主動(dòng)方向或偏轉(zhuǎn)方向。由相控陣探頭產(chǎn)生的聲波會(huì)沿直線傳播，直到遇到材料介質(zhì)的邊緣。北京醫(yī)療相控陣探頭采購(gòu)相控陣探頭的應(yīng)用：超聲相控陣探頭可以檢測(cè)復(fù)雜工件，比如可以...

相控陣探頭電子束聚焦通過(guò)對(duì)線性相控陣不同陣元施加對(duì)稱的聚焦法則。常規(guī)超聲通常使用幾種探頭來(lái)聚焦在不同深度。相控陣探頭電子聚焦的優(yōu)點(diǎn)是通過(guò)一個(gè)探頭能聚焦在聲場(chǎng)覆蓋的每一個(gè)深度。用動(dòng)態(tài)聚焦快速檢測(cè)厚坯的完整體積，電子聚焦還可以補(bǔ)償由于柱面界面引起的聚焦畸變。相控陣探頭電子束通過(guò)將聚焦法則應(yīng)用于線性、圓形或矩陣陣列的不同陣元，通過(guò)電子偏轉(zhuǎn)實(shí)現(xiàn)線陣和環(huán)陣探頭的2D波束控制，而矩陣陣列允許三維波束控制。這種技術(shù)實(shí)現(xiàn)使用一個(gè)探頭完成多種角度檢測(cè)的工作。在復(fù)雜幾何形狀件檢測(cè)時(shí)，這種技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)可以與電子聚焦的優(yōu)點(diǎn)結(jié)合起來(lái)快速檢測(cè)。相控陣探頭的聚焦銳利度會(huì)隨著頻率的升高而增強(qiáng)。安徽凸陣相控陣探頭銷售相控陣探頭的...

相控陣探頭檢測(cè)復(fù)合材料時(shí)，信號(hào)幅度或深度數(shù)據(jù)都可以收集，相控陣探頭同時(shí)利用編碼器收集和存儲(chǔ)探頭位置，通過(guò)軟件實(shí)現(xiàn)C掃描成像顯示。用相控陣探頭檢測(cè)管座角焊縫，具有更大的優(yōu)勢(shì)。相控陣探頭的特點(diǎn)是具有多晶片陣元，各晶片的激勵(lì)可以由相控陣設(shè)備設(shè)計(jì)和控制，壓電復(fù)合晶片受激勵(lì)后能產(chǎn)生超聲聚焦聲場(chǎng)，聲場(chǎng)的角度、聚焦方向、聚焦類型均可以設(shè)置。因此使用相控陣探頭檢測(cè)管座角焊縫，缺陷檢出率和檢測(cè)可靠性均優(yōu)于常規(guī)超聲波檢測(cè)。利用相控陣探頭的相控陣超聲相比傳統(tǒng)的手工超聲無(wú)損檢測(cè)技術(shù)具有很大優(yōu)勢(shì)，因?yàn)橄嗫仃囂筋^可以從固定的位置檢測(cè)各種焊縫和材料，這就允許它檢查相對(duì)困難的幾何形狀。隨著相控陣探頭晶片數(shù)量的增多，檢測(cè)所覆蓋...

相控陣探頭根據(jù)以下基本參數(shù)從功能上被分成不同的類別：晶片數(shù)量：較常用的相控陣探頭一般有16到128個(gè)晶片，有些探頭的晶片多達(dá)256個(gè)。隨著晶片數(shù)量的增多，聲波聚焦與電子偏轉(zhuǎn)的能力會(huì)增強(qiáng)，同時(shí)檢測(cè)所覆蓋的區(qū)域也會(huì)擴(kuò)大，然而探頭和儀器的成本費(fèi)用也會(huì)增加。每個(gè)晶片被單獨(dú)脈沖激勵(lì)，以創(chuàng)建希望得到的波前。因此這些晶片排列方向的維度通常被稱為主動(dòng)方向或偏轉(zhuǎn)方向。頻率：超聲缺陷探測(cè)一般使用2MHz到10MHz之間的頻率，因此大多數(shù)相控陣探頭都屬于這個(gè)頻率范圍。此外，還有頻率更低或更高的探頭。使用常規(guī)探頭，穿透性能會(huì)隨著頻率的降低而增加，而分辨率及聚焦銳利度會(huì)隨著頻率的升高而增強(qiáng)。雙線陣相控陣探頭區(qū)別于常規(guī)的...

雙線陣相控陣探頭有別于常規(guī)的單線陣探頭，雙線陣采用一邊發(fā)射另一邊的工作模式，提供了傳統(tǒng)的超聲波雙晶探頭一樣的優(yōu)點(diǎn)。雙線陣相控陣探頭在腐蝕測(cè)量應(yīng)用中比單線陣相控陣探頭具有更好的近地表分辨率和腐蝕凹坑探測(cè)能力，提高了臨界壁厚檢測(cè)的概率。面陣相控陣探頭又有矩陣、環(huán)陣等類型。矩陣相控陣探頭中的晶片按照兩個(gè)方向排布，可實(shí)現(xiàn)兩個(gè)方向上的波束偏轉(zhuǎn)。環(huán)陣相控陣探頭晶片呈同心圓環(huán)狀排布，主要實(shí)現(xiàn)不同深度的聚焦功能。扇陣相控陣探頭由環(huán)陣再切割而成，聚焦的同時(shí)可實(shí)現(xiàn)偏轉(zhuǎn)。超聲相控陣探頭常用的命名的格式如下：頻率和陣列類別和陣元數(shù)-陣元中心距離×陣元長(zhǎng)度。相控陣探頭具有能夠區(qū)分橫向或深度方向相距較近的兩個(gè)相鄰缺陷的能...

水浸相控陣探頭的設(shè)計(jì)目的是與水楔配合使用，或者用于當(dāng)被檢樣件部分或全部浸入水中時(shí)，在水浸箱中進(jìn)行檢測(cè)。這類探頭屬縱波探頭，但經(jīng)過(guò)設(shè)置后，使用Rexolite楔塊可以進(jìn)行折射橫波檢測(cè)。面陣列探頭的外殼由耐腐蝕的不銹鋼材料制成，可以保證在水下不超過(guò)1米的深度具有防水性能。這些探頭的聲阻抗與水的聲阻抗匹配。這些探頭與可調(diào)節(jié)的水浸楔塊相兼容，不但可以檢測(cè)復(fù)合材料的分層缺陷，還可以檢測(cè)碳纖維增強(qiáng)聚合物（CFRP）產(chǎn)品的內(nèi)圓角。雙晶線性陣列探頭，在腐蝕檢測(cè)應(yīng)用方面，為檢測(cè)人員提供了多種優(yōu)于常規(guī)超聲雙晶探頭的優(yōu)勢(shì)。這種相控陣解決方案可以提供更大的聲束覆蓋范圍、更快的掃查速度，以及具有更高數(shù)據(jù)點(diǎn)密度的C掃描成...

相控陣探頭的應(yīng)用技術(shù)：非垂直界面的反射和模式轉(zhuǎn)換：當(dāng)在某種材料中傳播的聲波遇到一個(gè)介質(zhì)不同且與聲波傳播方向成一定角度(角度不為零)的材料時(shí)，聲能的一部分會(huì)以與入射角度相同的角度反射。與此同時(shí)，另一部分在第二種材料中傳播的聲能會(huì)根據(jù)斯涅爾定律產(chǎn)生折射。如果第二介質(zhì)的聲速高于第1介質(zhì)，則在超出某些特定的角度時(shí)，折射現(xiàn)象還會(huì)伴有模式轉(zhuǎn)換，常見(jiàn)的轉(zhuǎn)換為縱波模式轉(zhuǎn)換為橫波模式。普遍應(yīng)用的角度聲束檢測(cè)技術(shù)就是基于這個(gè)現(xiàn)象。隨著在第1個(gè)較慢介質(zhì)(如：楔塊或水)中入射角度的增加，在第二個(gè)較快介質(zhì)(如：金屬)中的折射縱波角度也會(huì)相應(yīng)增加。當(dāng)折射縱波角度接近90度時(shí)，越來(lái)越多的聲能被轉(zhuǎn)換為以斯涅爾定律規(guī)定的角度折...

雙線陣相控陣探頭有別于常規(guī)的單線陣探頭，雙線陣采用一邊發(fā)射另一邊的工作模式，提供了傳統(tǒng)的超聲波雙晶探頭一樣的優(yōu)點(diǎn)。雙線陣相控陣探頭在腐蝕測(cè)量應(yīng)用中比單線陣相控陣探頭具有更好的近地表分辨率和腐蝕凹坑探測(cè)能力，提高了臨界壁厚檢測(cè)的概率。面陣相控陣探頭又有矩陣、環(huán)陣等類型。矩陣相控陣探頭中的晶片按照兩個(gè)方向排布，可實(shí)現(xiàn)兩個(gè)方向上的波束偏轉(zhuǎn)。環(huán)陣相控陣探頭晶片呈同心圓環(huán)狀排布，主要實(shí)現(xiàn)不同深度的聚焦功能。扇陣相控陣探頭由環(huán)陣再切割而成，聚焦的同時(shí)可實(shí)現(xiàn)偏轉(zhuǎn)。超聲相控陣探頭常用的命名的格式如下：頻率和陣列類別和陣元數(shù)-陣元中心距離×陣元長(zhǎng)度。水浸相控陣探頭是一種與水浸技術(shù)等效的的檢測(cè)技術(shù)。北京汽車檢測(cè)相...

相控陣探頭的應(yīng)用：超聲相控陣是超聲探頭晶片的組合，由多個(gè)壓電晶片按一定的規(guī)律分布排列，然后逐次按預(yù)先規(guī)定的延遲時(shí)間激發(fā)各個(gè)晶片，所有晶片發(fā)射的超聲波形成一個(gè)整體波陣面，能有效地控制發(fā)射超聲束（波陣面）的形狀和方向，能實(shí)現(xiàn)超聲波的波束掃描、偏轉(zhuǎn)和聚焦。它為確定不連續(xù)性的形狀、大小和方向提供出比單個(gè)或多個(gè)探頭系統(tǒng)更大的能力。超聲相控陣檢測(cè)技術(shù)使用不同形狀的多陣元換能器產(chǎn)生和接收超聲波束，通過(guò)控制換能器陣列中各陣元發(fā)射(或接收)脈沖的不同延遲時(shí)間，改變聲波到達(dá)(或來(lái)自)物體內(nèi)某點(diǎn)時(shí)的相位關(guān)系，實(shí)現(xiàn)焦點(diǎn)和聲束方向的變化，從而實(shí)現(xiàn)超聲波的波束掃描、偏轉(zhuǎn)和聚焦。然后采用機(jī)械掃描和電子掃描相結(jié)合的方法來(lái)實(shí)現(xiàn)...

相控陣探頭的應(yīng)用發(fā)展：相控陣技術(shù)作為無(wú)損檢測(cè)行業(yè)的新興技術(shù)，起源于醫(yī)療行業(yè)。80年代中期，隨著復(fù)合壓電材料的發(fā)明，相控陣技術(shù)得到了快速的發(fā)展。90年代初，相控陣技術(shù)作為一種新的無(wú)損評(píng)估技術(shù)出現(xiàn)在超聲手冊(cè)和培訓(xùn)手冊(cè)中。90年代末，隨著復(fù)合壓電技術(shù)，微加工技術(shù)，微電子技術(shù)和計(jì)算技術(shù)的發(fā)展，使得相控陣技術(shù)日趨成熟，尤其是計(jì)算處理能力的增強(qiáng)使得軟件功能得到極大提升。相控陣探傷技術(shù)可普遍用于石油石化、金屬加工制造、航空航天等領(lǐng)域，尤其以石油石化行業(yè)的焊縫檢測(cè)是相控陣技術(shù)應(yīng)用的重點(diǎn)。大多數(shù)工業(yè)相控陣檢測(cè)在500kHz到20MHz頻率范圍內(nèi)進(jìn)行。超聲相控陣探頭批發(fā)廠家相控陣探頭采用多陣元發(fā)射和接收超聲波波束...

凹面陣相控陣探頭：凹面陣多用于管道的外檢測(cè)，因其能很好地匹配相同曲率管子的外徑，并且其陣列的排列方式有物理聚焦的特點(diǎn)，聲束比平面陣列更加容易匯聚。凸面陣能很好地匹配相同曲率管子的內(nèi)徑，但在陣列凸面排列的狀態(tài)下，聲場(chǎng)旁瓣十分明顯，特別是小徑管中的聚焦聲場(chǎng)更容易向空間擴(kuò)散；凸面陣多用于醫(yī)學(xué)B超超聲診斷領(lǐng)域。在工業(yè)方面，國(guó)內(nèi)已有部分學(xué)者對(duì)凸面陣探頭進(jìn)行了開(kāi)發(fā)應(yīng)用，但總體研究并不多。除了陣列排布方式、延時(shí)法則之外，超聲相控陣探頭的檢測(cè)能力還與探頭盲區(qū)大小、中心頻率、發(fā)射脈沖寬度、楔塊的選擇、耦合介質(zhì)、試件表面平整度等因素有關(guān)。因此，針對(duì)一些特殊的檢測(cè)對(duì)象，調(diào)整其中的某些因素，便可以獲得不同用途的超聲相...

無(wú)損檢測(cè)用超聲相控陣探頭陣列主要有線形、面狀和環(huán)形。其設(shè)計(jì)基于惠更斯原理。陣列是相控陣探頭晶片的組合，在確定不連續(xù)性的大小、形狀和方向上，它比單個(gè)或多個(gè)探頭系統(tǒng)具有更強(qiáng)的能力。環(huán)形相控陣探頭不能進(jìn)行轉(zhuǎn)角控制。例如：一個(gè)頻率為10MHz的環(huán)形相控陣探頭，由16個(gè)環(huán)組成，晶片由壓電復(fù)合材料制成，較大直徑

在用相控陣探頭對(duì)焊縫進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，無(wú)需像普通單探頭那樣在焊縫兩側(cè)頻繁地來(lái)回前后左右移動(dòng)，而相控陣探頭沿著焊縫長(zhǎng)度方向平行于焊縫進(jìn)行直線掃查，對(duì)焊接接頭進(jìn)行全體積檢測(cè)。該掃查方式可借助于裝有陣列探頭的機(jī)械掃查器沿著精確定位的軌道滑動(dòng)完成，也采用手動(dòng)方式完成，可實(shí)現(xiàn)快速檢測(cè)，檢測(cè)效率非常高。超聲相控陣是超聲探頭晶片的組合，由多個(gè)壓電晶片按一定的規(guī)律分布排列，然后逐次按預(yù)先規(guī)定的延遲時(shí)間激發(fā)各個(gè)晶片，所有晶片發(fā)射的超聲波形成一個(gè)整體波陣面，能有效地控制發(fā)射超聲束（波陣面）的形狀和方向。水浸相控陣探頭的設(shè)計(jì)目的是與水楔配合使用。廣州線陣相控陣探頭相控陣探頭的應(yīng)用技術(shù)：聲衰減和聲散射的數(shù)學(xué)理論較為復(fù)雜。聲...

超聲波聚焦相控陣探頭可將超聲波聚集成一細(xì)束（線狀或點(diǎn)狀），在焦點(diǎn)處聲能集中，可提高探傷靈敏度及分辨力。超聲聚焦有兩種方法：一種是將壓電晶片做成凹面，發(fā)射的聲波直接聚焦，稱為自聚焦探頭；一種由直探頭和聲透鏡組成，聲透鏡的作用就是實(shí)現(xiàn)波束聚焦，稱為透鏡聚焦探頭。聚焦探頭具有良好的方向性，適用于檢測(cè)曲面零件缺陷和一定深度的缺陷。水浸相控陣探頭可在水中探傷，其結(jié)構(gòu)與直探頭相似，只是探頭較長(zhǎng)，以便浸在水中，保護(hù)膜也可去掉，由聲透鏡替代，前端為瓦狀聲透鏡的是線聚焦探頭，前端為球面聲透鏡的是點(diǎn)聚焦探頭。探頭發(fā)射縱波，但在液體中傾斜入射到工件時(shí)，由于入射角的不同，在工件中可產(chǎn)生橫波、表面波或蘭姆波，根據(jù)需要而...

水浸相控陣探頭的設(shè)計(jì)目的是與水楔配合使用，或者用于當(dāng)被檢樣件部分或全部浸入水中時(shí)，在水浸箱中進(jìn)行檢測(cè)。這類探頭屬縱波探頭，但經(jīng)過(guò)設(shè)置后，使用Rexolite楔塊可以進(jìn)行折射橫波檢測(cè)。面陣列探頭的外殼由耐腐蝕的不銹鋼材料制成，可以保證在水下不超過(guò)1米的深度具有防水性能。這些探頭的聲阻抗與水的聲阻抗匹配。這些探頭與可調(diào)節(jié)的水浸楔塊相兼容，不但可以檢測(cè)復(fù)合材料的分層缺陷，還可以檢測(cè)碳纖維增強(qiáng)聚合物（CFRP）產(chǎn)品的內(nèi)圓角。雙晶線性陣列探頭，在腐蝕檢測(cè)應(yīng)用方面，為檢測(cè)人員提供了多種優(yōu)于常規(guī)超聲雙晶探頭的優(yōu)勢(shì)。這種相控陣解決方案可以提供更大的聲束覆蓋范圍、更快的掃查速度，以及具有更高數(shù)據(jù)點(diǎn)密度的C掃描成...

相控陣探頭根據(jù)以下基本參數(shù)從功能上被分成不同的類別：類型：大多數(shù)相控陣探頭屬于角度聲束類型，與塑料楔塊、平直塑料靴或延遲塊一起使用。此外，還有直接接觸式探頭和水浸式探頭。頻率：超聲缺陷探測(cè)一般使用2MHz到10MHz之間的頻率，因此大多數(shù)相控陣探頭都屬于這個(gè)頻率范圍。此外，還有頻率更低或更高的探頭。使用常規(guī)探頭，穿透性能會(huì)隨著頻率的降低而增加，而分辨率及聚焦銳利度會(huì)隨著頻率的升高而增強(qiáng)。晶片尺寸：隨著晶片寬度的減小，聲束電子偏轉(zhuǎn)的性能會(huì)增強(qiáng)，但是要覆蓋大區(qū)域就需要有更多的晶片，因此費(fèi)用也會(huì)增加。相控陣探頭能檢測(cè)出航空復(fù)合材料構(gòu)件中的裂紋及未貼合等缺陷。池州超聲相控陣探頭直銷相控陣探頭的類型：根...