三、測試方法 電子產(chǎn)品測試采用多種測試方法，根據(jù)測試目的和測試對象的不同，可以選擇適當(dāng)?shù)臏y試方法和技術(shù)。常用的測試方法包括： 功能測試：采用黑盒測試方法，即不考慮內(nèi)部結(jié)構(gòu)和實(shí)現(xiàn)原理，只根據(jù)輸入和輸出之間的關(guān)系進(jìn)行測試。 性能測試：采用白盒...

電子產(chǎn)品測試是指對電子產(chǎn)品的各項(xiàng)功能、性能、可靠性、安全和兼容性等進(jìn)行測試的一種方法。通過測試，可以檢查產(chǎn)品是否符合用戶的需求和期望，確保產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性，提高產(chǎn)品競爭力和市場占有率。 電子產(chǎn)品測試的范圍非常，包括手機(jī)、電腦、平板、家電、汽車電子、醫(yī)...

電子產(chǎn)品測試方法及分析可以根據(jù)不同的測試目的和要求，采用不同的測試方法和技術(shù)。以下是常見的幾種電子產(chǎn)品測試方法及分析： 1.功能測試：功能測試是測試產(chǎn)品的各項(xiàng)功能是否正常工作。測試方法可以采用手動測試或自動化測試。手動測試需要人工操作產(chǎn)品，檢查各項(xiàng)功...

2產(chǎn)品知識：測試人員需要了解所測試產(chǎn)品的特點(diǎn)、功能、性能、安全和兼容性等方面的知識，以便能夠設(shè)計(jì)和執(zhí)行相應(yīng)的測試用例。 3測試工具和設(shè)備：測試人員需要熟悉各種測試工具和設(shè)備的使用方法和操作技巧，以便能夠準(zhǔn)確地進(jìn)行測試工作 4測試標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范：測試...

3.黑盒測試技術(shù) 黑盒測試技術(shù)是指在不考慮產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)和代碼的情況下，對電子產(chǎn)品的輸入和輸出進(jìn)行測試，通過模擬用戶的操作和場景來驗(yàn)證產(chǎn)品的功能和性能。黑盒測試技術(shù)適用于多種類型的產(chǎn)品測試，可以有效地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的功能缺陷和性能問題。 4.灰盒測試技...

電子產(chǎn)品測試是指對電子產(chǎn)品進(jìn)行功能、性能、可靠性、安全和兼容性等方面的測試。電子產(chǎn)品測試的目的是保證產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性，滿足用戶的需求和期望。電子產(chǎn)品測試的基本流程包括測試計(jì)劃制定、測試用例設(shè)計(jì)、測試環(huán)境搭建、測試執(zhí)行、測試結(jié)果分析和測試報(bào)告編寫等環(huán)節(jié)。在測試...

測試結(jié)果分析和測試報(bào)告編寫 測試結(jié)果分析是測試過程中的重要環(huán)節(jié)，通過對測試結(jié)果進(jìn)行分析和處理，找出問題和缺陷，并進(jìn)行跟蹤和確認(rèn)。測試報(bào)告編寫是測試過程中的終環(huán)節(jié)，根據(jù)測試結(jié)果，編寫測試報(bào)告，匯總測試數(shù)據(jù)和問題，提出測試建議和改進(jìn)措施。 測試結(jié)果...

DDR4眼圖測試1-2是德科技ADS仿真軟件的DDR4總線仿真器，提供了統(tǒng)計(jì)眼圖分析的功能，能夠在短時(shí)間內(nèi)統(tǒng)計(jì)計(jì)算在極低誤碼率(1e-16)下的DQ眼圖，根據(jù)規(guī)范判斷模板是否違規(guī)。另外基于總線的仿真，也很易于仿真基于串?dāng)_因素下的眼圖質(zhì)量?；谑静ㄆ鞯腄DR...

對于DDR源同步操作，必然要求DQS選通信號與DQ數(shù)據(jù)信號有一定建立時(shí)間tDS和保持時(shí)間tDH要求，否則會導(dǎo)致接收鎖存信號錯誤，DDR4信號速率達(dá)到了，單一比特位寬為，時(shí)序裕度也變得越來越小，傳統(tǒng)的測量時(shí)序的方式在短時(shí)間內(nèi)的采集并找到tDS/tDH...

眼圖與性能的關(guān)系眼圖的"眼睛"張開的大小反映著碼間串?dāng)_的強(qiáng)弱。"眼睛"張的越大且眼圖越端正表示碼間串?dāng)_越小;反之表示碼間串?dāng)_越大。當(dāng)存在噪聲時(shí)噪聲將疊加在信號上觀察到的眼圖的線跡會變得模糊不清。若同時(shí)存在碼間串?dāng)_"眼睛"將張開得更小。與間串?dāng)_時(shí)的眼圖相比原來清...

信號失真是指信號在傳輸過程中出現(xiàn)的幅度變化、頻率響應(yīng)畸變和時(shí)間偏移等失真現(xiàn)象，主要受信號頻率、傳輸距離和電路中元器件參數(shù)的影響。針對信號失真問題，常見的測試方法包括時(shí)域反射測試、頻率響應(yīng)測試和脈沖響應(yīng)測試等。 串?dāng)_是指信號之間由于電磁作用而產(chǎn)生的相互...

由于DDR5工作時(shí)鐘比較高到3.2GHz,系統(tǒng)裕量很小，因此信號的 隨機(jī)和確定性抖動對于數(shù)據(jù)的正確傳輸至關(guān)重要，需要考慮熱噪聲引入的RJ、電源噪聲引 入的PJ、傳輸通道損耗帶來的DJ等影響。DDR5的測試項(xiàng)目比DDR4也更加復(fù)雜。比如 其新增了nUI抖動測試項(xiàng)...

二、測試方法 1.功能測量功能測量是一種測試方法，用于驗(yàn)證電路的基本功能是否符合規(guī)格要求，通常是通過給定輸入數(shù)據(jù)，檢查輸出是否正確來進(jìn)行功能測試。在高速電路測試能測量通常使用數(shù)字信號發(fā)生器和示波器等儀器進(jìn)行。 2.時(shí)序測試時(shí)序測試是一種測試方法...

信號完整性（英語：Signal integrity, SI）是對于電子信號質(zhì)量的一系列度量標(biāo)準(zhǔn)。在數(shù)字電路中，一串二進(jìn)制的信號流是通過電壓（或電流）的波形來表示。然而，自然界的信號實(shí)際上都是模擬的，而非數(shù)字的，所有的信號都受噪音、扭曲和損失影響。在短距離、低比...

高速電路測試技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀及趨勢 摘要：隨著現(xiàn)代電子設(shè)備中高速串行通信信號的廣泛應(yīng)用，高速電路測試技術(shù)的重要性越來越突出。本文針對高速電路測試技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀和趨勢進(jìn)行了相關(guān)分析和總結(jié)，包括測試機(jī)構(gòu)和設(shè)備、測試標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范、測試場景和應(yīng)用、測試技術(shù)和難點(diǎn)...

10GBase-T/MGBase-T/NBase-T的測試 10GBase-T是IEEE在2006年推出的10G以太網(wǎng)的標(biāo)準(zhǔn)，用于在服務(wù)器、數(shù)據(jù)交換機(jī)間用雙絞線和RJ-45接口實(shí)現(xiàn)10Gbps的信號傳輸。10GBase-T的實(shí)現(xiàn)方法與1000Base...

電氣完整性是電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)中極其重要的一環(huán)，它是指在電路或系統(tǒng)運(yùn)行過程中保持正常的電學(xué)特性，如電壓、電流、電阻等，同時(shí)也涵蓋了電磁兼容性和信號完整性分析。在設(shè)計(jì)高速電子設(shè)備時(shí)，如高速集成電路、高速IO端口等，電氣完整性分析是必不可少的，因?yàn)殡姎馔暾詥栴}可能...

振鈴?fù)ǔＪ怯捎谛盘杺鬏斅窂竭^長并且阻抗不連續(xù)所引起的多次反射造成的，或者是由 于信號之間的干擾（串?dāng)_）、信號跳變所引起的電源/地波動（同步開關(guān)噪聲）造成的。 （4）邊沿單調(diào)性（Monotonicity）指信號上升或下降沿的回溝。對于邊沿判決的時(shí)鐘信號...

要想得到零邊沿時(shí)間的理想方波，理論上是需要無窮大頻率的頻率分量。如果比較高只考 慮到某個頻率點(diǎn)處的頻率分量，則來出的時(shí)域波形邊沿時(shí)間會蛻化，會使得邊沿時(shí)間增大。 如，一個頻率為500MHz的理想方波，其5次諧波分量是2500M,如果把5次諧波以 內(nèi)所...

高速電路信號完整性測試方法 高速電路信號完整性測試是通過測量信號傳輸路徑中的各種特性來評估電路傳輸系統(tǒng)的質(zhì)量和可靠性。以下是一些常見的高速電路信號完整性測試方法： 1.時(shí)域反射測試（TimeDomainReflectometry，TDR）：利用...

電氣完整性大致可以分為以下幾個類別： 1.傳輸線完整性。傳輸線完整性是指在傳輸線上保持信號傳輸?shù)姆€(wěn)定性和一致性。主要包括信號反射、信號失真、串?dāng)_和噪聲等。 2.時(shí)序完整性。時(shí)序完整性是指在系統(tǒng)中保持時(shí)鐘信號傳輸?shù)臅r(shí)序一致性。主要包括時(shí)鐘抖動、時(shí)...

數(shù)字示波器使用及MIPI-DSI信號測量 數(shù)字示波器主要用于時(shí)域波形測試，測量電壓/電流隨時(shí)間的變化情況，MIPI-DSI是MIPI聯(lián)盟針對顯示設(shè)備開發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)接口協(xié)議，這里記錄下本人學(xué)習(xí)數(shù)字示波器的使用和MIPI-DSI信號測試的一些總結(jié)。 一...

高速電路測試技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀及趨勢 摘要：隨著現(xiàn)代電子設(shè)備中高速串行通信信號的廣泛應(yīng)用，高速電路測試技術(shù)的重要性越來越突出。本文針對高速電路測試技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀和趨勢進(jìn)行了相關(guān)分析和總結(jié)，包括測試機(jī)構(gòu)和設(shè)備、測試標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范、測試場景和應(yīng)用、測試技術(shù)和難點(diǎn)...

相關(guān)器件的應(yīng)用手冊，ApplicationNote:在這個文檔中，廠家一般會提出一些設(shè)計(jì)建議，甚至參考設(shè)計(jì)，有時(shí)該文檔也會作為器件手冊的一部分出現(xiàn)在器件手冊文檔中。但是在資料的搜集和準(zhǔn)備中，要注意這些信息是否齊備。 參考設(shè)計(jì)，ReferenceDes...

MIPI物理層一致性測試 MIPI物理層一致性測試是一種用于檢測MIPI接口物理層性能是否符合規(guī)范的測試方法。MIPI物理層包括電氣規(guī)范和信令協(xié)議，這些規(guī)范確保了MIPI接口在不同設(shè)備之間的互通性和穩(wěn)定性。在MIPI物理層一致性測試中，測試設(shè)備會模擬...

電氣完整性測試的應(yīng)用 電氣完整性測試在電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)和制造過程中發(fā)揮著重要作用。在電子產(chǎn)品開發(fā)和生產(chǎn)階段，它應(yīng)用非常廣博，應(yīng)用場景包括： 1.電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段：在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段，電氣完整性測試能夠幫助設(shè)計(jì)人員優(yōu)化設(shè)計(jì)方案，以便確保設(shè)計(jì)方案中不存在電...

典型的數(shù)字信號波形可以知道如下幾點(diǎn) (1)過沖包括上過沖(Overshoot_High)和下過沖(Overshoot_Low)。上過沖是信號高于信號供電電源電壓Kc的最高電壓，下過沖是信號低于參考地電壓厶的比較低電壓。過沖可能不會對功能產(chǎn)生影響，但是...

大部分的DRAM都是在一個同步時(shí)鐘的控制下進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫，即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據(jù)時(shí)鐘采樣方式的不同，又分為SDR SDRAM(Single Data Rate SD...

2. 全局規(guī)劃與細(xì)節(jié)設(shè)計(jì)相結(jié)合。通過整體規(guī)劃和細(xì)節(jié)設(shè)計(jì)的有機(jī)結(jié)合，優(yōu)化電路完整性，減小電磁噪聲和輻射，提高電路信號傳輸?shù)母哳l響應(yīng)速率。 3. 等長線、天線和濾波器的設(shè)計(jì)。在電路布局設(shè)計(jì)中，需要考慮等長線、天線和濾波器的應(yīng)用，將其設(shè)計(jì)嵌入到電路中，以減...

典型的數(shù)字信號波形可以知道如下幾點(diǎn) (1)過沖包括上過沖(Overshoot_High)和下過沖(Overshoot_Low)。上過沖是信號高于信號供電電源電壓Kc的最高電壓，下過沖是信號低于參考地電壓厶的比較低電壓。過沖可能不會對功能產(chǎn)生影響，但是...