輻射雜散(RSE)近場電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場掃描診斷分析系統(tǒng)支持頻率范圍9kHz-40GHz的射頻輻射雜散（RSE）近場分析，使用電場近場探頭(H-Probe)、高低頻磁場近場探頭(H-Probe)，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，支持-90dBm以上輻射雜散信號分析。支持頻率分布、功率分布、頻譜分布、諧波分布等多輻射雜散RSE可視化分析功能，滿足研發(fā)級正向設(shè)計(jì)、整機(jī)、板級、芯片的輻射雜散問題自動(dòng)診斷分析，普遍用于手機(jī)、多媒體設(shè)備、無線終端模塊、醫(yī)療、、儀器儀表等行業(yè)的電磁兼容可靠性正向研發(fā)、輻射雜散評估、輻射雜散干擾源頭定位、替代物料輻射雜散評估、器件選型輻射雜散評估、成本降低輻射雜散性能評估、更新方案設(shè)計(jì)的輻射雜散性能評估、電磁仿真驗(yàn)證等方面。輻射近場測量需要解決的問題有哪些？深圳歐盟CE輻射雜散儀器
可視化輻射抗擾度診斷分析系統(tǒng)—IS32整體介紹：帶無線射頻功能的電子產(chǎn)品，除了要解決常規(guī)EMC干擾問題外， 射頻電路和天線與產(chǎn)品中各電路走線、功能組件、關(guān)鍵IC和元器件等 部件之間，也會發(fā)生電磁干擾問題。主要表現(xiàn)為射頻相關(guān)信號干擾其 他部件，導(dǎo)致性能功能的下降或喪失。另外，由于產(chǎn)品布局布線、器 件選型不佳等原因，產(chǎn)品內(nèi)一些器件在工作時(shí)產(chǎn)生的無意發(fā)射電磁噪 聲也會干擾到射頻電路和天線，導(dǎo)致射頻靈敏度指標(biāo)的下降，從而影 響產(chǎn)品的無線性能。以上兩類問題的解決，必須要能夠基于實(shí)際場景 評估干擾風(fēng)險(xiǎn)，準(zhǔn)確分析關(guān)聯(lián)器件和部件的輻射特性及射頻抗擾度特 性?？梢暬椛淇箶_度診斷分析系統(tǒng)可用于對芯片、元器件、模組 件、FPC、PCBA等部件和整機(jī)進(jìn)行近場輻射抗擾度故障模擬、自動(dòng)化 測量、可視化呈現(xiàn)、是解決復(fù)雜電磁輻射抗擾度問題的有效工具。福建GSM輻射雜散儀器（EMC電磁干擾EMI與電磁抗EMS）問題也受到各國有關(guān)部門和生產(chǎn)企業(yè)的日益重視。
EMI輻射近場探頭是用于配合頻譜分析儀查找干擾源的設(shè)備。產(chǎn)品性能：EMI輻射近場探頭（DC-9G）適合任何頻譜分析儀、示波器或EMI測試接收機(jī)，頻率范圍超寬，滿足您現(xiàn)在以及未來的測量需求。（DC-9G）包括4個(gè)磁場探頭和1個(gè)電場探頭，所有探頭均覆蓋絕緣層。配備手握式三角架，固定探頭組，以消除抖動(dòng)帶來的影響。產(chǎn)品特點(diǎn)：覆蓋有絕緣層的安全措施；非常方便的設(shè)計(jì)包括涂橡膠握把；非常小的尺寸，完善精確的干擾源定位；可以由一個(gè)信號源驅(qū)動(dòng)產(chǎn)生的電磁敏感性測試領(lǐng)域。輻射近場區(qū)介乎于感應(yīng)近場區(qū)與輻射遠(yuǎn)場區(qū)之間，在此區(qū)域內(nèi)，與距離的一次方、平方、立方成反比的場分量都占據(jù)一定的比例，場的角分布(即天線方向圖)與離開天線的距離有關(guān)，也就是說，在不同的距離上計(jì)算出的天線方向圖是有差別的。
EMI分析整改方案：從傳導(dǎo)的曲線上1MHz前超標(biāo)的情況可以看出差模電容X太小了，所以修改了X電容變成0。22uF。而1-5MHz之間也超標(biāo)，所以增加共模電感到50mH，這項(xiàng)頻率超標(biāo)一般主要是有變壓器的漏感造成的。在變壓器的外面增加了一個(gè)屏蔽銅箔，并接入熱地。（同時(shí)做了別外一個(gè)變壓器，去除原變壓器內(nèi)部的屏蔽層，改變了變壓器的繞線方式，在變壓器的外面做了屏蔽并接入熱地用備用）同時(shí)將MOS管和雙向二極管的散熱片也接入熱地。同時(shí)將MOS管的D、S兩腳間增加了一個(gè)101/1KV的電容，做完以上的整改方案后做了一次測試。EMI分析整改系統(tǒng)不同的電源有不同的要求，實(shí)際應(yīng)用中還有很多限制的。每根訊號好能做到與地的回流路徑短，回路面積越小，訊號的抗干擾能力越強(qiáng)，對外的EMI也達(dá)小。
EMI分析整改是工程師在設(shè)計(jì)中不可回避的問題：一次性很難通過昂貴的EMI一致性測試；難以捕獲偶發(fā)的EMI突發(fā)信號；需要擁有較長儀器采集時(shí)間的實(shí)時(shí)頻譜分析儀才可能捕獲EMI突發(fā)信號；大多數(shù)頻譜分析儀不是實(shí)時(shí)頻譜分析儀；EMI調(diào)試中很難找到噪聲來源；截短PCB線路，然后重連，才有可能找到噪聲來源；很難找到導(dǎo)致EMI的模擬信號和/或數(shù)字信號。遇到傳導(dǎo)測試超標(biāo)問題，第一步要做的，通常是定位噪聲分量主要是差模還是共模，通常的測試設(shè)備可以用來區(qū)分差共模分量，但個(gè)人覺得太麻煩，并且測試出來的是相對值，并不一定可以具備指導(dǎo)意義。簡單的辦法是，在輸入端口并聯(lián)一個(gè)X電容，幾十nF到幾百nF，如果所關(guān)心的頻段測試通過了，就說明噪聲的干擾主要是差模干擾，或者更準(zhǔn)確地說，通過壓低差模分量，就一定能夠搞定問題。在EMI測試中，信號線對于電磁噪聲來說是一個(gè)很好的耦合傳播途徑。瞭解了這一點(diǎn)，要做的就是把信號回路的阻抗降下來。成都產(chǎn)線輻射雜散哪里有
保持訊號路徑和它的地返回線緊靠在一起將有助于小化地線環(huán)路，避免出現(xiàn)潛在的天線環(huán)。深圳歐盟CE輻射雜散儀器
近場存在于距電磁輻射源（例如發(fā)射天線）一個(gè)波長范圍內(nèi)的電磁場，一個(gè)聲源（如揚(yáng)聲器）附近的聲輻射場。在衍射光學(xué)中，近場定義如下：當(dāng)入射光波是平面波，經(jīng)過透鏡會聚后。以焦斑為中心，落在其前后半個(gè)瑞利長度范圍外的光場為近場，否則稱為遠(yuǎn)場。一般來說我們把菲涅耳衍射稱為近場衍射。指放射性廢物處置庫周圍由于處置庫的存在而產(chǎn)生較大變化的區(qū)域，包括所有的工程屏障（廢物體、廢物罐、外包裝和回填材料）和庫周圍延伸幾米或幾十米的圍巖。天線近場測量可以給出天線各個(gè)截面的方向圖以及立體方向圖，可以分析出方向圖上的所有電參數(shù)（波束寬度、副瓣電平、零值深度、零深位置等）和天線的極化參數(shù)（軸比、傾角和旋向）以及天線的增益。目前，分布在世界各地的近場測量系統(tǒng)已有100多套。該技術(shù)的基本理論已基本成熟，這種測量方法的電參數(shù)測量精度比常規(guī)遠(yuǎn)場測量方法的測量精度要高得多，而且可全天候工作，并具有較高的保密性，因此，在民用中都顯示出了它獨(dú)特的優(yōu)越性。深圳歐盟CE輻射雜散儀器
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