電磁輻射干擾的遠場測量是指在半電波暗室或者EMC開闊場進行的測量，測量天線與被測物的距離一般為3米或3米以上，給出的結果是一張頻譜圖，即各個頻率點的電磁輻射干擾強度。標準GB13837-1997（CISPR13）和GB4343-1995（CISPR14）規(guī)定，應分別測試EUT外接連線，如電源線、AV線、耳機線、話筒線等線纜的干擾功率。傳導干擾是測試EUT運行過程中端口干擾電壓，包括電源端口、射頻端口、天線端口、電信端口等。如果被測設備有一個或者幾個頻率點的電磁干擾超過了標準的限值，被測設備就不符合EMC標準要求。在EMI，工程師從來無法完全掌握可能存在什么信號。福建集成電路EMI診斷儀器
常用技術是觀察特殊寬帶天線頻率范圍，包括所有校正因子在內的頻譜圖應同時顯示在頻譜分析儀的顯示屏上，顯示的幅值單位與頻譜分析儀上的單位相一致，通常是dBm。這樣測試人員可在顯示屏上監(jiān)測發(fā)射電平，一旦超過限值，就會被立刻發(fā)現，它在故障檢修中極其有用。這種特性使得人們在屏蔽被測產品的同時觀察頻譜分析儀的屏幕，并可立刻獲得反饋信息。在快速進行濾波、屏蔽和接地操作時同樣可做以上嘗試。頻譜分析儀很大保持頻譜圖存儲以及雙重追隨特性也可用于觀察操作前后的EMI電平的變化。鄭州電氣電力EMI診斷儀器雖然許多測試條件在報告中是明確表示的，但一些需要考慮的重要事情可能并不那么明顯。
噪聲是由機器內部耦合到電纜線上﹐而使電纜成為輻射天線。這一點是許多測試工程師容易忽略的。此情形如（a）中所提到的﹐只要將一條電纜靠近﹐則可從頻譜上看到噪聲立刻升高﹐此表示噪聲已不單純是由線上所輻射出﹐而是機器本身的噪聲能量相當大﹐一旦有天線靠近則立刻會耦合至天線而輻射出來。在實際測試中﹐我們發(fā)現許多通訊產品有這類情形發(fā)生﹐此時若單純用Core或Bead去處理﹐并不能真正的解決問題。機器內部的引線﹐連接線成為輻射天線，由于許多產品內部常有一些電線彼此連接工作廳﹐當這些線靠近噪聲源很容易成為天線﹐將噪聲輻射出去。針對此點的判斷﹐在200MHz以下之噪聲﹐我們可以在線上加一Core來判斷噪聲是否減低﹐而對于200MHz以上之高頻噪聲﹐我們可以將線的位置做前后左右的移動﹐看噪聲是否會增大或減小。
測試室為出EMI報告而開展的掃描通常是在特殊條件下進行的，你的公司實驗室也許無法復制這些條件。舉例來說，待測設備（DUT）可能放在一個轉盤上，以便于從多個角度收集信號。這種方位角信息是很有用的，因為它能指示問題發(fā)生的DUT區(qū)域?；蛘逧MI測試室可能在校準過的射頻房內開展他們的測量，并報告作為強場的測量結果。幸運的是，你并不需要完全復制測試室的條件才能排查EMI測試故障。與在高度受控的EMI測試線上執(zhí)行的一定測量不同，可以使用測試報告中的信息、深入理解用于產生報告的測量技術以及對待測設備周邊的相對觀察以隔離問題源并估計糾正有效性來開展問題的排查工作。MDO還能捕獲或觀察頻譜和時域軌跡。
很多公司發(fā)現他們的電子產品在上架銷售前常常栽倒在之后一關，即符合EMC要求。這使他們認識到在早期設計階段重視預測試和EMI診斷的重要性，以盡量減小測試不合格的影響——重新設計和設備召回，以及延遲產品上市。等到開發(fā)期結束才去了解產品是否能夠通過一致性測試是一場豪賭，因為每次改進涉及的開發(fā)成本會以指數規(guī)律攀升。因此，通過試產原型機，甚至早在研發(fā)階段，從設計調研上排查EMI日益重要。對問題電路板進行實驗，并采取預防措施是能夠為設計帶來便利。近場探針實際上就是設計用于拾取磁場（H場）或電場（E場）變化的天線。福建芯片EMI診斷頻譜儀
全世界幾乎所有有關部門都在嘗試控制他們國家生產的電子產品產生的有害電磁干擾（EMI）。福建集成電路EMI診斷儀器
如果設備沒有通過EMC測試，我們從測量結果中，只能知道哪些頻率點“超標”了，而這些頻率的電磁干擾是從哪里出來的，往往是工程師門不容易發(fā)現、難解決的問題。EMI快速診斷方法就是針對EUT的原理，先推斷引起EMI的原因和內部干擾源可能是什么，再根據EMI產生的途徑和機理，透過測試圖，分析超差原因；必要時,輔以高頻示波器或頻譜儀，從頻域到時域，尋找產生EMI問題的對應電路和器件；從而制定EMI對策。對策-顯示器使用帶磁環(huán)類型的信號電纜和電源電纜,電源輸入端串接差模線圈，電源地線剪短就近接地。福建集成電路EMI診斷儀器