起初接觸產(chǎn)品EMI對(duì)策修改時(shí)﹐會(huì)聽(tīng)到很好EMI工程師說(shuō)把所有EMI對(duì)策拿掉﹐就可以通過(guò)測(cè)試。初聽(tīng)以為是句玩笑話﹐如今回想這是很寶貴的經(jīng)驗(yàn)談。而后亦聽(tīng)到許多EMI工程師談到類似的經(jīng)驗(yàn)。本文中將舉出實(shí)際的例子﹐讓讀者更加了解EMI的對(duì)策觀念。一般提到如何解決EMI問(wèn)題﹐大多說(shuō)是casebycase，當(dāng)然從對(duì)策上而言﹐每一個(gè)產(chǎn)品的特性及電路板布線（layout）情況不同﹐故無(wú)法用幾套方法而解決所有EMI的問(wèn)題﹐但是長(zhǎng)久以來(lái)﹐我們一直想要把處理EMI問(wèn)題并做適當(dāng)?shù)膶?duì)策﹐另外也提供專業(yè)的EMI工程師一種參考方法。在此我們把電磁干擾與對(duì)策的一些心得經(jīng)驗(yàn)整理﹐希望能對(duì)讀者有些幫助。許多公司必須在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和測(cè)試方面花費(fèi)大量的人力物力。長(zhǎng)沙汽車電子EMI診斷作用
MIL-STD-285和NSA65-6是兩種常用的屏蔽效能標(biāo)準(zhǔn)，其測(cè)試目的類似于設(shè)備箱體的屏蔽效能測(cè)試，只不過(guò)它是在一個(gè)較大規(guī)模上進(jìn)行罷了。測(cè)試要求通常會(huì)用到磁場(chǎng)、電場(chǎng)、平面波和微波發(fā)射接收設(shè)備；被測(cè)的頻率范圍從幾十Hz到幾十GHz；可能會(huì)要求屏蔽效能值大于100dB。近場(chǎng)探頭和天線與頻譜分析儀一起用于標(biāo)定射頻泄漏區(qū)域，就象在一個(gè)物理小規(guī)模上測(cè)試電子設(shè)備所做的一樣。在這里會(huì)碰到許多同樣的問(wèn)題，通常的射頻泄漏區(qū)域?yàn)殄e(cuò)誤的導(dǎo)電封裝、襯墊、濾波器以及很可怕的“暗道”。所謂“暗道”指的是箱體外部的一個(gè)射頻泄漏點(diǎn)在箱體內(nèi)部的一個(gè)不同點(diǎn)上引起了射頻泄漏。在短波頻率上定位“暗道”是一項(xiàng)極具挑戰(zhàn)性的工作。長(zhǎng)沙汽車電子EMI診斷作用電源是EMI干擾噪聲的主要來(lái)源，示波器的電源諧波分析在這類排查工作中很有潛力。
如果用于識(shí)別輻射源，由于準(zhǔn)峰值檢波器算法結(jié)果總是小于或等于峰值檢波器，因此使用峰值檢波器足夠。準(zhǔn)峰值檢波器結(jié)果和峰值檢波器結(jié)果都涉及相同的信號(hào)重復(fù)率，您可以用公式表示數(shù)學(xué)波形，或者在故障排查過(guò)程中考慮到這一點(diǎn)。另一方面，EMI濾波器只會(huì)略微改變結(jié)果。與測(cè)試接收機(jī)不同，示波器在設(shè)計(jì)上沒(méi)有內(nèi)置EMI一致性限值測(cè)試。使用大多數(shù)示波器都配有的模板測(cè)試，或遠(yuǎn)程軟件，可以在示波器上定義EMI一致性限值從而模擬EMI標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試。然后，您可以進(jìn)一步設(shè)置更多的模板，發(fā)現(xiàn)感興趣的問(wèn)題區(qū)域。
事實(shí)上﹐我們?nèi)绻袳MI當(dāng)做一種疾病﹐當(dāng)然平時(shí)的預(yù)防保養(yǎng)是很重要的﹐而一旦有疾病則正確的診斷﹐才能得到快速的痊愈﹐沒(méi)有正確的診斷﹐找不到病癥的源頭﹐往往事倍功半而拖延費(fèi)時(shí)。故在EMI的問(wèn)題上﹐常?？吹揭粋€(gè)EMI有問(wèn)題的產(chǎn)品﹐由于未能找到造成EMI問(wèn)題的關(guān)鍵﹐花了許多時(shí)間﹐下了許多對(duì)策﹐卻始終無(wú)法解決﹐其中亦不乏專業(yè)的EMI工程師。以往談到EMI往往強(qiáng)調(diào)對(duì)策方法﹐甚而視許多對(duì)策秘決或絕招﹐然而沒(méi)有正確的診斷﹐而在產(chǎn)品上加了一大堆EMI壓制組件﹐其結(jié)果往往只會(huì)使EMI情況更糟。近場(chǎng)測(cè)量是可用于EMI排查的一種測(cè)量，因?yàn)樗灰鬁y(cè)試站點(diǎn)提供專門(mén)的條件就能讓你查出能量源。
EMI測(cè)試場(chǎng)的衰減測(cè)試可以由頻譜分析儀、適當(dāng)?shù)奶炀€和射頻發(fā)射裝置來(lái)完成。按照FCC和VDE發(fā)射說(shuō)明進(jìn)行測(cè)試的裝置必須滿足FCC或VDE中指定的相應(yīng)場(chǎng)地衰減要求。頻譜分析儀能用來(lái)測(cè)試材料、設(shè)備屏蔽箱體、甚至較大屏蔽測(cè)試室的屏蔽效能。材料樣品可以通過(guò)橫電磁波（TEM）室、頻譜分析儀和追隨信號(hào)發(fā)生器測(cè)試，測(cè)試裝置與濾波器衰減測(cè)試很相似，只是用TEM波室代替了濾波器。材料樣本放在TEM室里測(cè)試其頻率變化的衰減特性或屏蔽效能。另一種用頻譜分析儀測(cè)試材料的方法是將材料樣本蒙在測(cè)試盒的開(kāi)口上。此時(shí)追隨信號(hào)發(fā)生器與一小發(fā)射天線相連并放在測(cè)試盒的內(nèi)部。接收天線放在測(cè)試盒的外面并與頻譜分析儀相連。用材料樣本覆蓋的測(cè)量值之差就是屏蔽效能值。由于每臺(tái)新被測(cè)設(shè)備都不同，根據(jù)EMI信號(hào)特征選擇正確的工具以及識(shí)別輻射源十分重要。成都EMI診斷傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試
示波器、頻譜分析儀或測(cè)試接收機(jī)可以從不同角度解決EMI問(wèn)題。長(zhǎng)沙汽車電子EMI診斷作用
測(cè)試室為出EMI報(bào)告而開(kāi)展的掃描通常是在特殊條件下進(jìn)行的，你的公司實(shí)驗(yàn)室也許無(wú)法復(fù)制這些條件。舉例來(lái)說(shuō)，待測(cè)設(shè)備（DUT）可能放在一個(gè)轉(zhuǎn)盤(pán)上，以便于從多個(gè)角度收集信號(hào)。這種方位角信息是很有用的，因?yàn)樗苤甘締?wèn)題發(fā)生的DUT區(qū)域。或者EMI測(cè)試室可能在校準(zhǔn)過(guò)的射頻房?jī)?nèi)開(kāi)展他們的測(cè)量，并報(bào)告作為強(qiáng)場(chǎng)的測(cè)量結(jié)果。幸運(yùn)的是，你并不需要完全復(fù)制測(cè)試室的條件才能排查EMI測(cè)試故障。與在高度受控的EMI測(cè)試線上執(zhí)行的一定測(cè)量不同，可以使用測(cè)試報(bào)告中的信息、深入理解用于產(chǎn)生報(bào)告的測(cè)量技術(shù)以及對(duì)待測(cè)設(shè)備周邊的相對(duì)觀察以隔離問(wèn)題源并估計(jì)糾正有效性來(lái)開(kāi)展問(wèn)題的排查工作。長(zhǎng)沙汽車電子EMI診斷作用