通常EMI部門或外部實(shí)驗(yàn)室一開始是使用簡單的峰值檢測器執(zhí)行掃描來發(fā)現(xiàn)問題區(qū)域的。但當(dāng)所發(fā)現(xiàn)的信號超過或接近規(guī)定極限時，他們也執(zhí)行準(zhǔn)峰值測量。準(zhǔn)峰值是EMI測量標(biāo)準(zhǔn)定義的一種方法，用來檢測信號包絡(luò)的加權(quán)峰值。它根據(jù)信號的持續(xù)時間和重復(fù)率對信號進(jìn)行加權(quán)，以便對從廣播角度看解釋為“干擾”的信號施加更多的權(quán)重。與不頻發(fā)的脈沖相比，發(fā)生頻率更高的信號將導(dǎo)致更高的準(zhǔn)峰值測量結(jié)果。換句話說，問題信號發(fā)生的越頻繁，問題信號的一定幅度就越可能被準(zhǔn)峰值測量所屏蔽。一般來說，近場探針沒有校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，因此它們適合用于相對測量。鄭州可視化EMI診斷方法
起初接觸產(chǎn)品EMI對策修改時﹐會聽到很好EMI工程師說把所有EMI對策拿掉﹐就可以通過測試。初聽以為是句玩笑話﹐如今回想這是很寶貴的經(jīng)驗(yàn)談。而后亦聽到許多EMI工程師談到類似的經(jīng)驗(yàn)。本文中將舉出實(shí)際的例子﹐讓讀者更加了解EMI的對策觀念。一般提到如何解決EMI問題﹐大多說是casebycase，當(dāng)然從對策上而言﹐每一個產(chǎn)品的特性及電路板布線（layout）情況不同﹐故無法用幾套方法而解決所有EMI的問題﹐但是長久以來﹐我們一直想要把處理EMI問題并做適當(dāng)?shù)膶Σ擤o另外也提供專業(yè)的EMI工程師一種參考方法。在此我們把電磁干擾與對策的一些心得經(jīng)驗(yàn)整理﹐希望能對讀者有些幫助。深圳芯片EMI診斷作用問題信號發(fā)生的越頻繁，問題信號的一定幅度就越可能被準(zhǔn)峰值測量所屏蔽。
電磁干擾的觀念與防制﹐在國內(nèi)已逐漸受到重視。雖然目前國內(nèi)并無嚴(yán)格管制電子產(chǎn)品的電磁干擾（EMI）﹐但由于歐美各國多已實(shí)施電磁干擾的要求﹐加上數(shù)字產(chǎn)品的普遍使用﹐對電磁干擾的要求已是刻不容緩的事情。筆者由于啊作的關(guān)系﹐經(jīng)常遇到許多產(chǎn)品已完成成品設(shè)計﹐因無法通過EMI測試﹐而使設(shè)計工程師花費(fèi)許多時間和精力投入EMI的修改﹐由于屬于事后的補(bǔ)救﹐往往投入許多時間與金錢﹐甚而影響了產(chǎn)品上市的時機(jī)。產(chǎn)品開發(fā)期間要求設(shè)計師到標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室去解決干擾問題是不現(xiàn)實(shí)的。
EMI電磁干擾場地勘測：便攜式的頻譜分析儀與寬帶天線的組合在探測電磁干擾過程中特別有用。在1KHz～1GHz之間的輻射電磁干擾探測只用一臺頻譜分析儀和一根天線就可完成。不同地理位置環(huán)境干擾的勘測有助于確定好的的EMI開闊測試場地?？睖y的信息也可用于確定安置EMI敏感校驗(yàn)或設(shè)計組的好的位置。大多數(shù)情況下，來自建筑物外小的環(huán)境電磁干擾區(qū)域趨于建筑物的中間。對于多層建筑物，地下室或較低樓層通常具有小的環(huán)境電磁干擾。頻譜分析儀在電磁敏感度測試過程中用于監(jiān)視被測設(shè)備上的傳導(dǎo)或輻射發(fā)射電平。許多公司必須在產(chǎn)品設(shè)計和測試方面花費(fèi)大量的人力物力。
如果設(shè)備沒有通過EMC測試，我們從測量結(jié)果中，只能知道哪些頻率點(diǎn)“超標(biāo)”了，而這些頻率的電磁干擾是從哪里出來的，往往是工程師門不容易發(fā)現(xiàn)、難解決的問題。EMI快速診斷方法就是針對EUT的原理，先推斷引起EMI的原因和內(nèi)部干擾源可能是什么，再根據(jù)EMI產(chǎn)生的途徑和機(jī)理，透過測試圖，分析超差原因；必要時,輔以高頻示波器或頻譜儀，從頻域到時域，尋找產(chǎn)生EMI問題的對應(yīng)電路和器件；從而制定EMI對策。對策-顯示器使用帶磁環(huán)類型的信號電纜和電源電纜,電源輸入端串接差模線圈，電源地線剪短就近接地。在EMI，工程師從來無法完全掌握可能存在什么信號。鄭州可視化EMI診斷方法
示波器是快速了解有害輻射并找出它們來源的有效工具。鄭州可視化EMI診斷方法
EMC測試伴隨著產(chǎn)品研制的全過程，眾所周知，一個產(chǎn)品的電磁兼容性能是否達(dá)標(biāo)靠什么證明呢？無疑是試驗(yàn)，試驗(yàn)是檢驗(yàn)產(chǎn)品性能好壞的單獨(dú)手段。然而，EMC試驗(yàn)不單單承擔(dān)對產(chǎn)品性能終檢驗(yàn)的任務(wù)，在產(chǎn)品設(shè)計階段也需要有輔助試驗(yàn)手段檢驗(yàn)每一個設(shè)計思想及每一項(xiàng)設(shè)計措施是否正確。特別是復(fù)雜的電子系統(tǒng)，在方案論證階段需要制定EMC試驗(yàn)規(guī)范，在單機(jī)設(shè)備初樣、正樣研制階段需要對每項(xiàng)EMC指標(biāo)進(jìn)行測量，組成系統(tǒng)之后需要進(jìn)行系統(tǒng)級的EMC測試。系統(tǒng)級EMC測試的目的一方面檢驗(yàn)系統(tǒng)自身兼容性，另一方面檢驗(yàn)該電子系統(tǒng)與特定的工作環(huán)境是否兼容。鄭州可視化EMI診斷方法
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