APPH6040相噪分析儀基帶噪聲分析

無(wú)論是測(cè)試CW信號(hào)相位噪聲還是脈沖信號(hào)的相位噪聲指標(biāo)或AM噪聲測(cè)試等相關(guān)測(cè)試，測(cè)量結(jié)果都受到參考源和相位噪聲本身的影響。為了進(jìn)一步提高測(cè)試靈敏度，減少參考源和逆變器的影響，可以基于逆變器或數(shù)字相位調(diào)整方法使用相互相關(guān)的技術(shù)。該方法是互相關(guān)電路和互相關(guān)算法。測(cè)試的信號(hào)分為兩種方法，一種是參考信號(hào)源和欣賞或數(shù)字調(diào)整，另一種是與其他參考源進(jìn)行欣賞或數(shù)字調(diào)整，兩種輸出信號(hào)分別進(jìn)行過(guò)濾、放大、ADC采樣，然后進(jìn)行相互相關(guān)的運(yùn)算。(阿爾伯特愛(ài)因斯坦，NorthernExposure，成功)相互關(guān)聯(lián)的技術(shù)提高測(cè)量靈敏度的程度取決于相互關(guān)聯(lián)的運(yùn)算次數(shù)。參考振蕩器和測(cè)試系統(tǒng)的噪聲測(cè)試性能可通過(guò)10，000次測(cè)量結(jié)果之和提高20dB。APPH相位噪聲分析儀可快速的測(cè)量設(shè)置并測(cè)量。APPH6040相噪分析儀基帶噪聲分析

APPH6040提供一整套測(cè)量工具，附加相位噪聲測(cè)量、直接訪問(wèn)雙信道50MHzFFT分析器或頻率計(jì)功能、時(shí)間-域瞬態(tài)及功率測(cè)量。使用可靠的互相關(guān)測(cè)量步驟和自標(biāo)定程序，即使在不斷變化的環(huán)境條件中，都能獲得可再現(xiàn)的精確測(cè)量。全自動(dòng)頻率獲取和自標(biāo)定很大程度簡(jiǎn)化了儀器的使用和適用性，帶來(lái)更快的測(cè)量輸出和更方便的實(shí)際操作。替換一種緊湊、強(qiáng)大的儀器，可采用LAN（VXI-11）、USBTMC或GPIB（可選）接口。我們提供單立于平臺(tái)的直觀的圖形用戶界面（GUI）、API庫(kù)和強(qiáng)大的SCPI命令語(yǔ)言集。支持的測(cè)量：附加或jue對(duì)相位噪聲測(cè)量;瞬態(tài)測(cè)量 ;FFT分析器模式下帶寬為50 MHz ;頻率計(jì);功率級(jí)檢測(cè)器浙江高性能相噪分析儀基帶噪聲分析使用相噪分析儀進(jìn)行相位噪聲測(cè)量的方法及注意事項(xiàng)。

相位噪聲是許多現(xiàn)代電子系統(tǒng)和設(shè)備的一項(xiàng)重要技術(shù)指標(biāo)和關(guān)鍵性技術(shù)問(wèn)題，通過(guò)相位噪聲的表征和測(cè)試的研究，找到影響頻率源穩(wěn)定性的因素，可應(yīng)用于測(cè)控系統(tǒng)，衡量其頻率源的質(zhì)量。相位噪聲是許多現(xiàn)代電子系統(tǒng)和設(shè)備(包括測(cè)控、雷達(dá)、通信、導(dǎo)航、干涉儀、射電天文、電子測(cè)量和近代物理實(shí)驗(yàn)等)的一項(xiàng)重要技術(shù)指標(biāo)和關(guān)鍵性技術(shù)問(wèn)題，通過(guò)相位噪聲的表征和測(cè)試的研究，找到影響頻率源穩(wěn)定性的因素，可應(yīng)用于頻率源的設(shè)計(jì)和研制提高頻率源的質(zhì)量。

相位噪聲表示短期頻率穩(wěn)定性、物理現(xiàn)象的兩種方法，相位噪聲表示為頻域，短期頻率穩(wěn)定性表示為時(shí)域。相位噪聲通常是指系統(tǒng)內(nèi)各種噪聲作用引起的輸出信號(hào)相位的隨機(jī)波動(dòng)。相位的隨機(jī)波動(dòng)一定會(huì)引起頻率隨機(jī)波動(dòng)，這種波動(dòng)因?yàn)樗俣瓤毂环Q(chēng)為短期頻率穩(wěn)定度，使用單邊波段、1Hz帶寬內(nèi)的相位噪聲功率譜密度嗎？時(shí)域一般用在一定的時(shí)間間隔內(nèi)，頻率變化的相對(duì)值是測(cè)量時(shí)間的函數(shù)，一般用方差說(shuō)明頻率穩(wěn)定性，可以分為長(zhǎng)期穩(wěn)定性和短期穩(wěn)定性，目前沒(méi)有嚴(yán)格的界限。APPH相噪分析儀可精確給出自身真實(shí)噪底。

    相位噪聲指標(biāo)是射頻、微波領(lǐng)域非常重要的指標(biāo)，相位噪聲指標(biāo)的測(cè)試為、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、調(diào)試是必須測(cè)試的指標(biāo)，測(cè)試準(zhǔn)確度要求高，需要考慮的因素很多。數(shù)字相位調(diào)整方法包括環(huán)路鎖相環(huán)、環(huán)路帶寬內(nèi)的噪聲抑制補(bǔ)償、相同的靈敏度，提高了測(cè)試效率。數(shù)字相位調(diào)整方法可以輕松實(shí)現(xiàn)脈沖相位噪聲、附加相位噪聲、脈沖附加相位噪聲測(cè)試、VCO測(cè)試和瞬態(tài)測(cè)試等多種測(cè)試要求，極大地滿足了各種測(cè)試要求?？梢酝瑫r(shí)測(cè)量各種測(cè)試要求。同時(shí)，數(shù)字相位調(diào)整法測(cè)試比較簡(jiǎn)單，沒(méi)有復(fù)雜的操作設(shè)置，測(cè)試速度較快。特別是通過(guò)在數(shù)字相位調(diào)整方法的基礎(chǔ)上添加相互相關(guān)的算法進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試靈敏度非常高，是目前進(jìn)行相位噪聲測(cè)試和其他相關(guān)測(cè)試的很出色的測(cè)試方法和手段。 APPH64G的相位噪聲分析儀的頻率范圍是1MHz~64GHz，基本能滿足客戶對(duì)高頻率的相位噪聲測(cè)量的需求。APPH6040相噪分析儀基帶噪聲分析

APPH系列是是一款功能齊全的高性能信號(hào)源分析儀/相噪分析儀。APPH6040相噪分析儀基帶噪聲分析

相位噪聲來(lái)源:指系統(tǒng)（如各種射頻器件）在各種噪聲的作用下引起的系統(tǒng)輸出信號(hào)相位的隨機(jī)變化。相位噪聲是衡量頻率標(biāo)準(zhǔn)源（高穩(wěn)晶振、原子頻標(biāo)等）頻穩(wěn)質(zhì)量的重要指標(biāo)，隨著頻標(biāo)源性能的不斷改善，相應(yīng)噪聲量值越來(lái)越小，因而對(duì)相位噪聲譜的測(cè)量要求也越來(lái)越高。相位噪聲好壞對(duì)通訊系統(tǒng)有很大影響，尤其現(xiàn)代通訊系統(tǒng)中狀態(tài)很多，頻道有很密集，并且不斷的變換，所以對(duì)相噪的要求也愈來(lái)愈高。如果本振信號(hào)的相噪較差，會(huì)增加通信中的誤碼率，影響載頻跟蹤精度。相噪不好不僅增加誤碼率和影響載頻跟蹤精度，還影響通信接收機(jī)道內(nèi)、外性能測(cè)量。APPH6040相噪分析儀基帶噪聲分析

安鉑克科技（上海）有限公司致力于儀器儀表，是一家生產(chǎn)型的公司。安鉑克科技致力于為客戶提供良好的微波模擬信號(hào)發(fā)生器，矢量信號(hào)發(fā)生器，頻率綜合器，相位噪聲分析儀，一切以用戶需求為中心，深受廣大客戶的歡迎。公司注重以質(zhì)量為中心，以服務(wù)為理念，秉持誠(chéng)信為本的理念，打造儀器儀表良好品牌。安鉑克科技憑借創(chuàng)新的產(chǎn)品、專(zhuān)業(yè)的服務(wù)、眾多的成功案例積累起來(lái)的聲譽(yù)和口碑，讓企業(yè)發(fā)展再上新高。