ICP光源是一種光薄的光源,自吸現象小,所以ICP-AES法校正曲線的線性范圍可達5~6個數量級,有的儀器甚至可以達到7~8個數量級,即可以同時測定~n0%的含量。在大多數情況下,元素濃度與測量信號呈簡單的線性。既可測低濃度成分(低于mg/L),又可同時測高濃度成分(幾百或數千mg/L)。是充分發(fā)揮ICP-AES多元素同時測定能力的一個非常有價值的分析特性.由于等離子體光源的異常高溫(炎炬高達1萬度,樣品區(qū)也在6000℃以上),可以避免一般分析方法的化學干擾、基體干擾,與其它光譜分析方法相比,干擾水平比較低。等離子體焰炬比一般化學火焰具有更高的溫度,能使一般化學火焰難以激發(fā)的元素原子化、激發(fā),所以有利于難激發(fā)元素的測定。并且在Ar氣氛中不易生成難熔的金屬氧化物,從而使基體效應和共存元素的影響變得不明顯。很多可直接測定,使分析操作變得簡單,實用。相關內容可以咨詢上海晗彬檢測設備。便攜式光譜儀可用于Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb等多種金屬及其合金樣品分析。斯派克光譜儀怎么用
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光譜分析儀基體效應是X射線熒光定量分析的主要誤差來源之一。光譜分析儀基體效應是個無法客觀,其物理實質是激發(fā)(吸收)和散射造成特征X射線強度的變化,除待測元素外,基體成份中靠近待測元素的那些元素對激發(fā)源的射線和待測元素特征X射線產生光電效應的幾率比輕元素(在地質樣品中一些常見的主要造巖元素)的幾率大得多,也就是這些鄰近元素對激發(fā)源發(fā)射的X射線和待測元素的特征X射線的吸收系數比輕元素大得多;輕元素對激發(fā)源放出的射線和待測元素的特征X射線康普頓散射幾率比重元素大得多。
光譜分析儀器入射光經光柵衍射后,相鄰刻線產生的光程差,則可導出光柵方程,光柵方程將某波長的衍射角和入射角通過光柵常數d聯系起來,為入射光波長,m為衍射級次,取等整數。式中的""號選取規(guī)則為:入射角和衍射角在光柵法線的同側時取正號,在法線兩側時取負號。如果入射光為正入射,光柵方程變?yōu)?。衍射角度隨波長的變化關系,稱為光柵的角色散特性,當入射角給定時,可以由光柵方程導出復色入射光進入狹縫S1后,經M2變成復色平行光照射到光柵G上,經光柵色散后,形成不同波長的平行光束并以不同的衍射角度出射,M2將照射到它上面的某一波長的光聚焦在出射狹縫S2上,再由S2后面的電光探測器記錄該波長的光強度。光柵G安裝在一個轉臺上,當光柵旋轉時,就將不同波長的光信號依次聚焦到出射狹縫上,光電探測器記錄不同光柵旋轉角度(不同的角度**不同的波長)時的輸出光信號強度,即記錄了光譜。這種光譜儀通過輸出狹縫選擇特定的波長進行記錄,稱為光柵單色儀。直讀光譜儀可以檢測低合金鋼??蓹z測碳鋼、低合金鋼、中低合金鋼進行準確分析。
上海晗彬檢測設備有限公司的ICP-AES法首先是一種發(fā)射光譜分析方法,可以多元素同時測定。發(fā)射光譜分析方法只要將待測原子處于激發(fā)狀態(tài),便可同時發(fā)射出各自特征譜線同時進行測定。ICP-AES儀器,不論是多道直讀還是單道掃描儀器,均可以在同一試樣溶液中同時測定大量元素(30~50個,甚至更多)。已有文獻報導的分析元素可達78個[4],即除He、Ne、Ar、Kr、Xe惰性氣體外,自然界存在的所有元素,都已有用ICP-AES法測定的報告。當然實際應用上,并非所有元素都能方便地使用ICP-AES法進行測定,仍有些元素用ICP-AES法測定,不如采用其它分析方法更為有效。盡管如此,ICP-AES法仍是元素分析為有效的方法。上海晗彬檢測設備有限公司銷售進口便攜式光譜儀。德國斯派克光譜儀性價比
直讀光譜儀是冶金分析的重要檢測手段,冶金分析是分析化學的重要應用領域。斯派克光譜儀怎么用
直讀光譜儀品種分為火花直讀光譜儀,光電直讀光譜儀,原子發(fā)射光譜儀,原子吸收光譜儀,真空直讀光譜儀,直讀光譜儀分為臺式機和立式機直讀光譜儀廣泛應用于鑄造,鋼鐵,金屬回收和冶煉以及、航天航空、電力、化工、高等院校和商檢,質檢等單位根據色散組件的分光原理,光譜儀器可分為:棱鏡光譜儀,衍射光柵光譜儀和干涉光譜儀.光學多道分析儀OMA(OpticalMulti-channelAnalyzer)是近十幾年出現的采用光子探測器(CCD)和計算機控制的新型光譜分析儀器,它集信息采集,處理,存儲諸功能于一體使傳統(tǒng)的光譜技術發(fā)生了根本的改變,使用OMA分析光譜,測試準確迅速,方便,且靈敏度高,響應時間快,光譜分辨率高,測量結果可立即從顯示屏上讀出或由打印機,繪圖儀輸出.。斯派克光譜儀怎么用
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