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來源: 發(fā)布時間:2022-07-27

耐鹽霧:連接器在含有潮氣和鹽分的環(huán)境中工作時,其金屬結(jié)構(gòu)件、接觸件表面處理層有可能產(chǎn)生電化腐蝕,影響連接器的物理和電氣性能。為了評價電連接器耐受這種環(huán)境的能力,規(guī)定了鹽霧試驗。它是將連接器懸掛在溫度受控的試驗箱內(nèi),用規(guī)定濃度的氯化鈉溶液用壓縮空氣噴出,形成鹽霧大氣,其暴露時間由產(chǎn)品規(guī)范規(guī)定,至少為48h。耐振動和沖擊:耐振動和沖擊是電連接器的重要性能,在特殊的應用環(huán)境中如航空和航天、鐵路和公路運輸中尤為重要,它是檢驗電連接器機械結(jié)構(gòu)的堅固性和電接觸可靠性的重要指標。電子元器件之電阻識別方法-數(shù)標法-博盛微科技解說篇。FS32K144UAT0VLHT

其他電氣性能:電磁干擾泄露衰減是評價連接器的電磁干擾屏蔽效果,電磁干擾泄露衰減是評價連接器的電磁干擾屏蔽效果,一般在100MHz“10GHz頻率范圍內(nèi)測試。對射頻同軸連接器而言,還有特性阻抗、插入損耗、反射系數(shù)和電壓駐波比等電氣指標。由于數(shù)字技術(shù)的發(fā)展,為了連接和傳輸高速數(shù)字脈沖信號,出現(xiàn)了一類新型的連接器即高速信號連接器,相應地,在電氣性能方面,除特性阻抗外,還出現(xiàn)了一些新的電氣指標,如串擾、傳輸延遲和時滯等。環(huán)境性能:常見的環(huán)境性能包括耐溫、耐濕、耐鹽霧、耐振動和耐沖擊等。SY50282FAC傳感器通常由敏感元件和轉(zhuǎn)換元件組成。

將一光源對準光敏電阻的透光窗口,此時萬用表的指針應有較大幅度的擺動,阻值明顯減些此值越小說明光敏電阻性能越好。若此值很大甚至無窮大,表明光敏電阻內(nèi)部開路損壞,也不能再繼續(xù)使用。將光敏電阻透光窗口對準入射光線,用小黑紙片在光敏電阻的遮光窗上部晃動,使其間斷受光,此時萬用表指針應隨黑紙片的晃動而左右擺動。如果萬用表指針始終停在某一位置不隨紙片晃動而擺動,說明光敏電阻的光敏材料已經(jīng)損壞。電容器:固定電容器的檢測:檢測10pF以下的小電容因10pF以下的固定電容器容量太小,用萬用表進行測量,只能定性的檢查其是否有漏電,內(nèi)部短路或擊穿現(xiàn)象。

電位器:用于分壓的可變電阻器,在裸露的電阻體上,緊壓著一至兩個可移金屬觸點。觸點位置確定電阻體任一端與觸點間的阻值。傳感器:傳感器能感受規(guī)定的被測量并按照一定的規(guī)律轉(zhuǎn)換成可用信號的器件或裝置,通常由敏感元件和轉(zhuǎn)換元件組成。電聲器件:指電和聲相互轉(zhuǎn)換的器件,它是利用電磁感應、靜電感應或壓電效應等來完成電聲轉(zhuǎn)換的,包括揚聲器,耳機,傳聲器,唱頭等。電容:電容在電路中一般用“C”加數(shù)字表示(如C13表示編號為13的電容)。電容是由兩片金屬膜緊靠,中間用絕緣材料隔開而組成的元件。數(shù)字集成電路是將元器件和連線集成于同一半導體芯片上而制成的數(shù)字邏輯電路或系統(tǒng)。

模擬集成電路是指由電容、電阻、晶體管等元件集成在一起用來處理模擬信號的模擬集成電路。有許多的模擬集成電路,如集成運算放大器、比較器、對數(shù)和指數(shù)放大器、模擬乘(除)法器、鎖相環(huán)、電源管理芯片等。模擬集成電路的主要構(gòu)成電路有:放大器、濾波器、反饋電路、基準源電路、開關(guān)電容電路等。模擬集成電路設計主要是通過有經(jīng)驗的設計師進行手動的電路調(diào)試,模擬而得到,與此相對應的數(shù)字集成電路設計大部分是通過使用硬件描述語言在EDA軟件的控制下自動的綜合產(chǎn)生。電位器觸點位置確定電阻體任一端與觸點間的阻值。10M04SCU169C8G

對于三位表示法前兩位數(shù)字表示阻值的有效數(shù),第三位數(shù)字表示有效數(shù)后面零的個數(shù)。FS32K144UAT0VLHT

電容器在測試操作時,特別是在測較小容量的電容時,要反復調(diào)換被測電容引腳接觸A、B兩點,才能明顯地看到萬用表指針的擺動。對于0.01μF以上的固定電容,可用萬用表的R×10k擋直接測試電容器有無充電過程以及有無內(nèi)部短路或漏電,并可根據(jù)指針向右擺動的幅度大小估計出電容器的容量。電解電容器的檢測:因為電解電容的容量較一般固定電容大得多,所以,測量時,應針對不同容量選用合適的量程。根據(jù)經(jīng)驗,一般情況下,1~47μF間的電容,可用R×1k擋測量,大于47μF的電容可用R×100擋測量。FS32K144UAT0VLHT

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